Nejnavštěvovanější odborný portál pro stavebnictví a technická zařízení budov

ČSN 36 4639
Metoda pro určování difúzní délky minoritních nosičů proudu v křemíkových destičkách měřením povrchového fotonapětí

previewúvod k normě
Zobrazit anotaci
Název anglicky:Measurement of diffusion length of minority carriers in silicon wafers by the surface photovoltage method
Třídicí znak:364639
Schválena:17.2.2010
Vydána:1.3.2010
Účinnost od:1.4.2010
Počet stran:8
Orientační cena:126 Kč
Formát PDF:CPDF - Character PDF (norma je plnotextová)
Velikost PDF:193 kB
Druh:ČSN
Vydavatel:Úřad pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví
zobrazit detail normy na stránkách vydavatele


 
 
Reklama